LBT-CQ蒸汽老化试验机(数显)

LBT-CQ蒸汽老化试验机(数显)

产品介绍

适用于电子连接器、半导体IC、晶体管、二极管、液晶LCD、芯片电阻电容、零组件产业电子零组件金属接脚沾锡性试验前的老化加速寿命时间试验;半导体、被动组件、零件接脚氧化试验。微电脑温度控制器、LED数字显示，PID+SSR控制,白金电阻温度传感器（PT-100），分辨率0.1℃，全自动安全保护装置。

特点：
1:内箱体材质:SUS304不秀钢制作。
2:水位控制:内附不锈水箱一个，可手动加水也可外接自来水管，在低水位时仪器手动或自动补水，实验不中断 3:日本欧姆龙控温.PID控制，SSR输出.温度更精准.高温情况下质量更可靠
4:计时器:可多元化设定,(可设定秒,分钟-秒. 分钟,小时-分钟.小时.)带停电记忆功能.停电后,再来电按设定时间继续工作
5:采用全侦测系统,故障发生时亮灯显示,方便作业人员及时了解设备状况
6:加温系统:发热管采用钛管。不易腐蚀，使用寿命更长
7:高稳定性白金探头，误差更小
8: 符合MTL-STP-208F，202标准

技术参数：